高低溫試驗箱的滿足標(biāo)準及試驗方法

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

測試樣品案例：電工電子產(chǎn)品

試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

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