高低溫試驗設(shè)備主要是根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自身的要求，對產(chǎn)品在恒定低溫、高溫和高低溫循環(huán)等條件下的物理及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬試驗。在規(guī)定時間內(nèi)通過測試后，可以初步判斷產(chǎn)品的性能是否仍能滿足預(yù)定功能要求，主要用于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定和出廠檢驗。

一、高低溫測試標(biāo)準(zhǔn)：

GB_T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

IEC 60068-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-2部分：試驗試驗B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：低溫

二、適用的行業(yè)包括：

電子元器件、光通光電、半導(dǎo)體、汽車電子、儀器儀表、新能源、塑膠新材料、醫(yī)藥器械、金屬建材等行業(yè)產(chǎn)品。