大功率LED加速壽命試驗(yàn)及問(wèn)題分析
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上傳人：王亞盛,張麗燕,刁生進(jìn) 上傳時(shí)間： 2009-11-27 瀏覽次數(shù)： 347 |
采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB1772)規(guī)定的電子元器件加速壽命試驗(yàn)方法,選擇了工作環(huán)境溫
度作為加速應(yīng)力,設(shè)計(jì)了四個(gè)應(yīng)力等級(jí)的大功率LED加速壽命試驗(yàn)方案并進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)果
為每個(gè)應(yīng)力等級(jí)下的失效模式有2~3種,不同應(yīng)力級(jí)別確定的激活能有一定的差異。通過(guò)對(duì)金
絲引線球焊處開(kāi)裂、金屬化層失效等主要失效機(jī)理的產(chǎn)生原因以及溫度、電流密度之間關(guān)系分
析,認(rèn)為基于Arrhenius模型進(jìn)行大功率LED加速壽命試驗(yàn)存在不足和缺陷,不能準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)穩(wěn)
態(tài)溫度下的LED壽命,應(yīng)當(dāng)對(duì)Arrhenius模型進(jìn)行修正。歡迎下載學(xué)習(xí)！
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