LED芯片壽命試驗(yàn)過(guò)程全解析
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上傳人： 上傳時(shí)間： 2012-09-26 瀏覽次數(shù)： 265 |
LED具有體積小，耗電量低、長(zhǎng)壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過(guò)程中，需要通過(guò)壽命試驗(yàn)對(duì)LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià)，并通過(guò)質(zhì)量反饋來(lái)提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。
1、引言
2、壽命試驗(yàn)條件的確定
3、過(guò)程與注意事項(xiàng)
4、壽命試驗(yàn)臺(tái)的設(shè)計(jì)
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