光源測試簡介

　　本測試主要針對 CREE 提供之1W 大功率LED (XP-C P3) emitter 光源進行熱性能測試，主要測試有:

　　(1) IV曲線測試與電功率測試

　　(2) 結(jié)點溫度(以下簡稱為結(jié)溫)量測

　　(3) LED熱阻量測

　　(4) 不同操作溫度下光參數(shù)性能測試

　　相關測試以驗證其提供之相關規(guī)格，作為光源應用設計依據(jù)。

　　測試樣品&測試設備

　　測試樣品介紹﹕

Electro-Optical characteristics
Electro-Optical characteristics at If=350mA，Ta=25ºC

　　測試設備組成說明

　　(一) 測試儀主體

　　輸出恒電流源，采樣設定，信號轉(zhuǎn)換，數(shù)據(jù)處理等；

　　(二) 可溫控銅熱沉平臺

　　作為溫度系數(shù)Kj 值量測及不同操作溫度下LED熱性能測試；

　　(三) 靜態(tài)空氣測試積分球

　　根據(jù)EIA/JESD51-1，制造恒定體積的測試環(huán)境測量LED的光通量；

　　(四) 電腦

　　安裝測試軟件，操作并控制整個測試過程；

　　LED emitter 熱阻參數(shù)測試路徑： Rj-slug = (Tj – Tslug)/Pd ，emitter結(jié)點至heat slug 底部之熱阻量測，Pd 為輸入電功率

　　樣品測試參數(shù)條件：

　　1. 順向測試電流 If：350mA ~ 1000mA

　　2.銅熱沉溫控范圍 Tsink : 20 ~ 80°C

　　3.LED輸入之電功率 Pd : If´Vf

　　其中 Vf 為順向電壓，本報告之Pd 假設依據(jù)一般LED light source 供應商(Lumileds，OSRAM，CREE etc.) Pd假設定義相同條件下， 進行熱阻計算(不考慮光功率因子參數(shù))。